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上海棱光近红外分光光度计S430
近红外光谱分析仪（Near Infrared Spectroscopy Analyzer，NIR光谱仪）是一种常用的非破坏性分析仪器，用于对物质进行近红外光谱分析。下面对近红外光谱分析仪进行简单介绍。
近红外光谱分析仪工作原理：
近红外光谱分析基于样品在近红外波段（约700-2500 nm）吸收和散射特性来获得相关信息。
仪器通过发射一束宽带的近红外辐射，并测量经过样品后返回的反射或透射信号。
比较待测物质与参考标准之间的差异，利用数学算法建立模型，并根据模型预测待测样品中的成分、含量或其他属性。
近红外光谱分析仪特点和优势：
1、非破坏性：不需要对样品进行处理或破坏，可直接对固体、液体及气体等不同形态的样品进行检测。
2、快速：可以在几秒钟到几分钟内完成一次扫描和数据处理，提供即时结果。
3、多参数检测：可以同时检测多个组分或属性，在药品、食品、化工等行业有广泛应用。
4、无需样品制备：不需要对样品进行处理、稀释或前处理，降低了操作的复杂性和时间成本。
近红外光谱分析仪使用操作规程：
1、根据使用说明书正确安装仪器并连接所需电源和数据传输线。
2、打开仪器电源，并根据实验要求选择合适的波长范围及参数设置。
3、准备好待测物质样品，将其放置在样品池或传感区域中。
4、启动测量程序，在一定时间内记录下读数稳定后的光强值或吸收谱线。
5、根据需要进行多次测量以获得平均值，并记录相关数据。
近红外光谱分析仪是一种常用的非破坏性分析仪器，通过近红外光谱技术获取物质的吸收和散射信息来预测其组成、含量或其他属性，了解其工作原理、使用操作规程以及优势可以帮助用户正确使用和解读检测结果。
| 项目 | 内容 |
| 仪器型号 | S430 |
| 测量方式 | 透射样品池 |
| 探测器 | 日本滨松制冷型铟镓砷（InGaAs） |
| 光谱带宽nm | 8 |
| 波长范围nm | 900~2500 |
| 波长准确度nm | ±0.2 |
| 波长重复性nm | ≤0.05 |
| 杂散光% | ≤0.1 |
| 吸光度噪声Abs | ≤0.0005 |
| 分析时间 | 1分钟（可调节） |
| 数据传输方式 | USB2.0 |
| 定标技术 | MPLS改进最小二乘法回归定标技术 |
| DPLS光谱鉴定及定性分析技术 |
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